Research
學年度 2018
期刊等級 SCI EI
論文名稱(篇名) Extraction of sub-gap density of states via capacitance–voltage measurement for the erasing process in a TFT charge-trapping memory
期刊名 AIP Advances
出版日期 2018.02
作者中文名 陳貞夙
全部作者 Yen-Chang Chiang;Yang-Hsuan Hsiao;Jeng-Ting Li;Jen-Sue Chen*
著作人數 4